Halbleiter-Klimazuverlässigkeits-Prüfung

November 4, 2021

Neueste Unternehmensnachrichten über Halbleiter-Klimazuverlässigkeits-Prüfung

Halbleiterbauelemente sind für Verunreinigungen und Staub sehr empfindlich. Deshalb ist es sehr notwendig, das Niveau von Verunreinigungen und von Staub im schwierigen Produktionsverfahren genau zu steuern. Die Qualität des Endprodukts ist für jede verhältnismäßig unabhängige und wechselwirkende Fertigung in der Produktion, wie Aufdampfen, Chipmaterial, Verpacken, etc. genügend.

Wegen der schnellen Förderung der Technologie, der neuen Materialien und der neuen Prozesse werden ständig in den neuentwickelten Geräten verwendet, und der Markt fährt fort, fordernde Anforderungen für Entwurfszeit vorzubringen, also ist es im Allgemeinen unmöglich, Zuverlässigkeitsentwurf entsprechend vorhandenen Produkten durchzuführen. Um bestimmte Wirtschaftsindikatoren zu erzielen, werden Halbleiterprodukte immer in den großen Mengen produziert; und es ist unpraktisch, Halbleiterprodukte zu reparieren. Deshalb ist es eine sehr notwendige Anforderung geworden, damit Halbleiterprodukte das Konzept der Zuverlässigkeit in der Entwurfsphase hinzufügen und Variablen in der Fertigung verringern.


Die Zuverlässigkeit von Halbleiterbauelementen hängt von der Versammlung, vom Gebrauch und von den Umweltbedingungen ab. Faktoren beeinflussend, schließen Sie Gas, Staub, Verschmutzung, Spannung, spezifische Stromdichte, Temperatur, Feuchtigkeit, der Druck ein und Erschütterung, schwere Stärke der Erschütterung, des Drucks und des elektromagnetischen Feldes austauschen.

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Halbleiter-Klimazuverlässigkeits-Prüfung
Temperatur- und FeuchtigkeitsneigungsZyklustest
Hitzeneigungslebentest des Dauerzustandes feuchter
In hohem Grade beschleunigt, Test kochend
Lagerfähigkeitstest der hohen Temperatur
■TemperaturZyklustest
■Macht-auf TemperaturZyklustest
■TemperaturSchlagprobe
Salzsprühtest
Schräger Berufslebentest der Temperatur
■Test des in hohem Grade beschleunigten Lebens
■Test des in hohem Grade beschleunigten Lebens unvoreingenommen
■Erschütterung und Kippfrquenztest